1. 3B904. Equipements de tests cryogéniques de plaquettes, présentant toutes les caractéristiques suivantes :
2. a. Conçus pour tester des dispositifs à des températures inférieures ou égales à 4.5 K (- 268.65 °C) ; et
3. b. Conçus pour accueillir des diamètres de plaquettes supérieurs ou égaux à 100 mm.
4. 3C907. Matériaux épitaxiés constitués d'un « substrat » comportant au moins une couche épitaxiée de l'un des matériaux suivants :
5. a. Silicium ayant une impureté isotopique inférieure à 0.08 % d'isotopes de silicium autres que le silicium-28 ou le silicium-30 ; ou
6. b. Germanium ayant une impureté isotopique inférieure à 0.08 % d'isotopes de germanium autres que le germanium-70, germanium-72, germanium-74, ou germanium-76.
7. 3C908. Fluorures, hydrures ou chlorures, de silicium ou de germanium, contenant l'un des éléments suivants :
8. a. Silicium ayant une impureté isotopique inférieure à 0.08 % d'isotopes de silicium autres que le silicium-28 ou le silicium-30 ; ou
9. b. Germanium ayant une impureté isotopique inférieure à 0.08 % d'isotopes de germanium autres que le germanium-70, germanium-72, germanium-74, ou germanium-76.
10. 3C909. Silicium, oxydes de silicium, germanium ou oxydes de germanium, contenant l'un des éléments suivants :
11. a. Silicium ayant une impureté isotopique inférieure à 0.08 % d'isotopes de silicium autres que le silicium-28 ou le silicium-30 ; ou
12. b. Germanium ayant une impureté isotopique inférieure à 0.08 % d'isotopes de germanium autres que le germanium-70, germanium-72, germanium-74, ou germanium-76.
13. Note. - L'alinéa 3C909 inclut les « substrats », grumeaux, lingots, boules et préformes.